北京中慧天誠科技有限公司作者
功能薄膜特性測試儀 型號:ZH9392 | |
產品簡介 本測試儀是多用途綜合測量裝置,開展半導體材料的電阻性能的測試。由四探針測試儀和非晶硅薄膜電導率測量儀組成。四探針測試儀由主機、測試架等部分組成,測試結果由數字表頭直接顯示。主機主要由高靈敏度直流數字電壓表和高穩定度 恒流源組成。非晶硅薄膜電導率測量儀由樣品室、溫控系統、真空系統、高阻測量系統等部分組成。 測量范圍: 電阻范圍:1×106~1×1017Ω; 電 阻 率:0.001~200Ωcm 電 導 率:0.005~1000s/cm 可測晶片直徑: 200mmX200mm 探 針:碳化鎢或高速鋼 探針間距:1±0.01mm 針間緣電阻:≥1000MΩ 機械游移率:≤0.3% 本底真空度:≤10Pa 氣壓可控范圍:10~400Pa 襯底加熱 溫度:室溫~200℃ | ![]() |
關鍵詞:數字電壓表
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