臺式微區X射線熒光光譜儀M1 MISTRAL
臺式微區X射線熒光光譜儀
用于大件樣品與鍍層樣品的無損分析
無需任何準備即可分析任何形狀的樣品
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品盒鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數Z=22（鈦）以上的所有元素。因此，它可以分析的物質范圍較廣，譬如金屬、合金、金屬鍍層，包括多層鍍層樣品。

詳細介紹

臺式微區X射線熒光光譜儀M1 MISTRAL

臺式微區X射線熒光光譜儀

用于大件樣品與鍍層樣品的無損分析

無需任何準備即可分析任何形狀的樣品

M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀，可對大件樣品盒鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍：原子序數Z=22（鈦）以上的所有元素。因此，它可以分析的物質范圍較廣，譬如金屬、合金、金屬鍍層，包括多層鍍層樣品。

樣品尺寸zui大可達100x100x100mm，無需任何處理，直接放在樣品臺上檢測。

光管位于樣品上方，測量過程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復式樣的樣品，如精工細作的珠寶或者不同厚度的樣品。

可以精確測量用戶的所需的位置

M1 MISTRAL的微焦斑X射線光管，即使光斑小到100μm也可以產生足夠的射線強度，光斑大小取決于所使用的準直器。

采用視頻顯微鏡進行準確定位，可以測量任何想測的位置?？蛇x的計算機控制的自動樣品臺，并自動聚焦。

超快檢測系統，迅速產生結果

M1 MISTRAL可配有兩種不同的X射線探測器：大面積充氣正比計數器，可用于質量控制中的標準應用；或者配置硅漂移探測器，具有超快的檢測速度盒非常好的能量分辨率，檢出限可以達到0.01%（重量比）。*的探測器，數字脈沖處理器及優化的幾何結構，確保了X射線探測的zui大效率，能夠快速地得到準確的分析結果。

易使用，免維護

M1 MISTRAL及XSpect軟件的設計，讓操作人員只需經過簡單的培訓即可使用。

僅一個電源接口就可以運行儀器，采用空氣冷卻，無需消耗品。緊固的結構確保zui高的穩定性，并*免維護。

珠寶及合金分析

M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品，不到1分鐘就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分比或K(克拉)表示

測量RoHS檢測要求

高性能的M1 MISTRAL也可以測量RoHS指令限定的輕基體的痕量元素。直接控制電氣產品中有害元素的濃度。

測量鍍層樣品

采用X射線熒光技術的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層多層。XSpect軟件采用無標樣基本參數法，可以同時計算鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品可以進一步提高定量分析的準確性。

部分應用簡介

M1 MISTRAL的應用領域很廣，我們選擇3個常見的例子進行簡要介紹。

珠寶檢測

黃金
白金
鉑（Pt）合金
銀（Ag）合金
精度：優于0.2wt%

可分析的多層鍍膜樣品

可以測定鍍層樣品的鍍層厚度及成分，例如：

Zn-Fe
Au-Ni-Cu
Au-Pd-Ni-Fe
CuSn-Ni-Cu
Au-Pd-Ni-Cu

XSpect分析軟件

XSpect軟件具有以下功能：

儀器控制，數據采集與處理
譜峰識別
定量分析，采用無標樣法和基于標樣的經驗系數法
鍍層樣品分析，可分析鍍層厚度和成分
采用基本參數法編輯特定鍍層的分析方法
報告輸出

參數	M1 MISTRTAL^pc	M1 MISTRTAL^SDD
元素分析范圍	Ti（22）-U（92）	Na（11）-U（92）
激發源	高性能微焦斑光管，W靶，玻璃視窗	高性能微焦斑光管，W靶，玻璃視窗
電壓及功率	50kV，50W；可選40kV，40W	50kV，50W
探測器	大面積正比計數器，1100mm²感應面積	Peltier制冷高性能XFlash^R硅漂移探測器，30mm²感應面積，對Mn-Ka能量分辨率<150eV
光斑尺寸	準直器：固定或4個自由切換，Φ0.1到Φ2 mm	準直器：固定或4個自由切換，Φ0.2到Φ2 mm
樣品觀察	高分辨率彩色攝像系統，放大倍率20-40倍	高分辨率彩色攝像系統，放大倍率20-40倍
樣品臺	馬達驅動Z方向樣品臺，自動對焦，選項：馬達驅動X-Y-Z樣品臺便捷進樣功能	馬達驅動X-Y-Z樣品臺便捷進樣功能
定量分析	塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模式和無標樣模式鍍層分析：FP-基數參數法模式	塊狀樣品：基于標樣的經驗系數法模式和無標樣模式鍍層分析：FP-基數參數法模式
電源	110-230V AC；50/60 Hz，zui大功率100W	110-230V AC；50/60 Hz，zui大功率120W
尺寸（寬ⅹ深ⅹ高）	550ⅹ700ⅹ430 mm	550ⅹ700ⅹ430 mm
重量	46 kg	50 kg