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可靠性試驗的目的與內容

2009年12月01日 17:04:20人氣:517來源:廣東省東莞市貝爾試驗設備有限公司

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【資料簡介】

可靠性試驗是評價產品可靠性水平的重要手段。目前把測定、驗證、評價、分析等凡是為提高產品可靠性而進行的試驗,統稱為可靠性試驗。可靠性試驗是開展產品可靠性工作的重要環節。

可靠性試驗一般是在產品的研究開發階段和大規模生產階段進行的。在研究開發階段,可靠性試驗主要用于評價設計質量、材料和工藝質量。在大規模生產階段,可靠性試驗的目的則是質量保證或定期考核管理。由于階段不同,其目的和內容也不*相同。表8.1列出了根據不同階段、不同目的所開展的可靠性試驗的內容。

       測試單元組合(TEG)正是上一節微電子測試結構可靠性評價方法中所提到的測試結構。隨著集成電路集成化和復雜化的程度日益提高,僅在成品階段進行評價已很不夠,而必須在形成集成電路的制造過程中就進行評價。TEG可以針對設計、工藝、材料、單元電路,結合可能出現的失效的模式和機理,制成各種可測試的結構圖形。它可以放在電路芯片圖形的旁邊,也可單獨在大圖片上占據幾個管芯的位置,甚至單獨排列在一個大園片上形成測試園片,制片時放在正規園片當中,目的是在研制開發階段的制造工藝過程中,就能對設計、工藝、材料和基本單元進行可靠性評價,或者查找失效模式,弄清失效機理,以便及時進行反饋。在大規模生產階段,也可用來監測監控工藝流程。

可靠性試驗所要達到的目的,可歸納為如下三點:

       1)通過試驗來確定電子元器件的可靠性特性值。試驗暴露出的在設計、材料、工藝階段存在的問題和有關數據,對設計者、生產者和使用者都是非常有用的。

       2)通過可靠性鑒定試驗,可以全面考核電子元器件是否已達到預定的可靠性指標。這是電子元器件新品設計定型必須進行的步驟。

       3)通過各種可靠性試驗,了解產品在不同的工作、環境條件下的失效規律,摸準失效模式,搞清失效機理,以便采取有效措施,提高產品可靠性。

8.1 可靠性試驗內容

階段 目的 內容 樣品

研究開發

  掌握可靠性水平的試驗 標準試驗

加速試驗

極限試驗

實用試驗 擴散評價TEG

組裝評價TEG

基本電路TEG

產品

標準化探討用的試驗 模擬試驗

極限試驗 TEG

產品大量生

產 可靠性保證試驗 形式試驗

認定試驗

批量保證試驗 產品

篩選試驗 加速試驗 產品

 

廣東省東莞市貝爾試驗設備有限公司作者

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