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紫外分光光度計QF09-754的技術性能
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- 【資料簡介】
紫外分光光度計QF09-754的技術性能
帶寬:4nm
波長范圍:190~1100nm自動掃描
波長準確度:±1.0nm
波長重復性:<0.5nm
光度范圍: T: 0~1250.0%T,A:-0.097~2。70A:0~1999C(0~1999F)
透射比準確度:±0.5%T
透射比重復性:±0.2%T
雜散光: 0.3%T(在220,340nm處)
穩定性/基線漂移:±0.002A/h
亮電源:<±0.5%T 顯示:20*2LCD液晶顯示。
標準樣品架:四槽位標準樣品架
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