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廣電計量檢測集團股份有限...

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失效分析檢測簡要介紹

閱讀:1541      發布時間:2023-7-13
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什么是失效分析?失效分析是一門發展中的新興學科,近年開始從軍工向普通企業普及。它一般根據失效模式和現象,通過分析和驗證,模擬重現失效的現象,找出失效的原因,挖掘出失效的機理的活動。在提高產品質量,技術開發、改進,產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學分析等。 


為什么要進行失效分析?失效分析檢測目的:


  1、明確潛在失效機理、查找失效根本原因、確定失效薄弱環節,為改進產品設計,選材等提供依據。


  2、通過失效機理分析還可以預測可靠性,起到技術反饋作用。


  3、在提高產品質量、技術開發、產品改進、產品修復及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。


廣電計量失效分析檢測能能力


  廣電計量集成電路測試與分析事業部是國內的半導體質量評價與可靠性提升方案技術服務提供方。廣電計量投入300多臺檢測分析設備,形成以博士、專家為核心的人才隊伍,打造8個專項實驗室及1個功能安全認證中心,為裝備制造、汽車、電力電子與新能源、5G通信、光電器件與傳感器、軌道交通與材料、晶圓廠等領域企業提供專業的失效分析、晶圓級制造工藝分析、元器件篩選、可靠性測試、工藝質量評價、產品認證、壽命評估等服務,幫助企業提升電子產品質量與可靠性。


專項實驗室及認證中心

重點能力

AEC-Q車規元器件
認證實驗室

AEC-Q100/101/102/103/104/200全項目認證
光、電、熱、機械全參數測試
片級試驗驗證與失效分析

IGBT及第三代
半導體實驗室

功率器件逆向工程與案例分析
GBT及第三代半導體器件全參數測試
AQG324功率器件試驗認證

晶圓級工藝及材料
分析實驗室

4nm及以上芯片制程晶圓級制造工藝分析
半導體器件納米級微結構及微區成分解析
芯片等半導體器件顯微失效分析

集成電路測試

工程實驗室

集成電路工程化測試開發
集成電路可靠性測試開發
集成電路小批量量產測試

集成電路篩選

與量產實驗室

集成電路CP/FT/量產測試開發和導入
元器件一篩/二篩
集成電路國產化鑒別與結構分析

封裝組裝及DPA實驗室

電子元器件破壞性物理分析
元器件質量管控及鑒定
板級制造工藝評價與改進

電子電氣檢測與驗證實驗室

電子電氣功能、性能測試
板級工藝質量驗證與故障定位
5G產品測試與可靠性驗證

服役評估實驗室

器件、零部件壽命評估
材料老化機理研究
國產化驗證

功能安全認證中心

ISO26262功能安全ASFP培訓
ISO26262功能安全流程(管理體系)技術服務
IS026262功能安全技術服務
ISO26262功能安全硬件、軟件測試
IS026262功能安全認證審核


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