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重慶留輝科技有限公司


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UB-6200半導體晶體集成電路檢測用顯微鏡

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產品型號UB-6200半導體、晶體、集成電路檢測用顯微鏡

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更新時間:2024-08-05 09:39:40瀏覽次數:222次

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產品簡介

工業顯微鏡廣泛應用于半導體,電子工業進行晶體,集成電路的檢驗和科學研究. 配備有反射照明,成象和觀察系統,偏光裝置

詳細介紹

工業顯微鏡廣泛應用于半導體,電子工業進行晶體,集成電路的檢驗和科學研究.
配備有反射照明,成象和觀察系統,偏光裝置.
Industrial microscope is widely used for crystal, integrated circuit (IC) examination
and research. It is supplied with reflected illumination, imaging and viewing system,
polarized imaging system.
規格 Specifications
◇ 無限遠光學系統,管鏡焦距200mm
Infinitive Optical System, Tube Lens Focal Length 200mm
◇ 鉸鏈式三目鏡筒,30°傾斜, 瞳距55-75mm
Compensation Free Trinocular Tube, Inclined at 30°, Interpupillary Distance 55-75mm
◇ 高眼點,大視場目鏡WF10X/22
High Point and Wide Field Eyepiece WF10/22
◇ 長工作距離,平場復消色差物鏡2X/0.055, 5X/0.14, 10X/0.28, 20X/0.29, 50X/0.42
Long Working Distance, Plan Apo Objectives 2X/0.055, 5X/0.14, 10X/0.28, 20X/0.29, 50X/0.42
◇ 五孔物鏡轉換器
Quintuple Nosepiece
◇ 6″雙層活動平臺和圓平臺
6″Double Layers Mechanical Stage and circle stage
◇ 同軸粗微調焦機構,微動格值0.002mm
Coaxial Coarse & Fin Focus Adjustment System, Fine Division 0.002mm
◇照明系統 Illumination System
冷光源光纖反射照明器:12V150W
Cold Light Fiber Reflected Illnminator: 12V150W


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