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日本MIC超高電阻測試儀AE-1644E非常適合安裝 10kΩ ~ 1TΩ 芯片、Melf、軸向型超高電阻機器分揀機、激光和切割機型修邊機

日本MIC高精度超低電阻測量儀AE-1152D自動測量超低電阻的理想之選非常適合分流電阻器等的超低電阻測量。取消熱電動勢效應的測量脈沖測量電流，減少測量端子自熱...

日本MIC超高精度數字電阻測試儀AE-173E內置換檔電磁閥電源：DC12V（2A）、24V（1A）/脈沖輸出（2A）內置無缺陷計數器

日本MIC超高精度、數字電阻檢測儀AE-163L超小尺寸芯片 （0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...）兼容精密電阻！適用于 B、C、D、F、G、J、K ...

日本MIC超高精度、超精密電阻檢測AE-163D非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

日本MIC兼容超小芯片高精度、數字電阻檢測器AE-162LD、F、G、J、K級超小尖頭（0201、03015）兼容編帶機0201、03015尺寸超小型芯片兼容（...

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162E由于模數隔離提高了抗噪性，因此穩定性高兼容極小的芯片（低功耗測量）超高速 0.7msec.（代表值）

日本MIC超高速芯片電阻檢測儀AE-162D適用于 D、F、G、J、K 級、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機

日本imt獨立負載型自動拋光機 Rana-3Rana-3采用單獨加載方式，可自由設置1-6個樣品。由于可以改變支架的轉數，所以可以在相同的轉數下對支架和盤進行拋...

日本imt滾筒式樣品拋光機SP-As1 / As2用于安裝拋光機 IM-P2 的滾筒式樣品旋轉機。拋光非嵌入樣品時，可將SP-As1連接到拋光機IM-P2上，實...

日本imt實驗拋光機組合IM-P2+SP-L1用于安裝拋光機 IM-P2 的樣品旋轉機。拋光嵌入樣品時，將 SP-L1 連接到拋光機 IM-P2 以啟用自動拋光...

日本imt臺式樣品拋光機 IM-P2IM-P2是一款于手工拋光的拋光設備。通過改裝樣品旋轉機也可以實現自動化。工作臺高度便于更換圓盤并用手拋光。搭載了即使在高轉...

日本電子技研激光多普勒振動計V100系列型號名稱V100-LMV100-MSV100-S測量頻率范圍0.5Hz-300kHz的速度測量范圍3μm/ s至10 m...

日本萊歐泰克眉筆硬度檢測儀RTC-3005DFUDOH レオメーターRTCは食品、化粧品、工業製品などの研究室や工場、また各地の大學や官公庁施設などの様々な分野...

日本taisei機油診斷儀 ODS T-ODS-301特點 1. 簡單的初始設置2. 有溫度輸出 3.通過藍牙連接到智能手機4.數據圖顯示與智能手機應用程序 （...

日本賽卡SAIKA樹脂粒子用金屬異物檢出機MHD系列高性能樹脂/通用樹脂制造商復合材料制造商精密成型機

日本vista用于測量殘留氣體成分的智能真空計SC-10用于測量殘留氣體成分的真空計用于真空設備的健康檢查！