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光學薄膜新款研發用測厚儀介紹

時間:2022/2/18閱讀:1132
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光學薄膜新款研發用測厚儀介紹

模型TOF-6R001
測量方法接觸式/線性量規
測量對象薄膜高精度塑料薄膜(聚酰亞胺薄膜、光學薄膜等)
測量原理線性規
產品特點
  • 離線輕松快速地測量厚度

  • 測量數據實時顯示在屏幕上

  • 測量數據可以自動保存在個人電腦上

  • 由于是通過自動運輸測量,所以測量數據沒有個體差異。

  • 也可用于調整雷達圖上的充氣膜。

  • 實現接觸式測量,小顯示值為 0.01 μm

產品規格
測量厚度5-100微米
測量長度10 至 10000 毫米
測量間距0.1毫米~
小顯示值0.01微米
測量壓力0.19 牛 (0.12 牛)
電源電壓AC100 伏 50/60 赫茲
工作溫度限制10-40℃
濕度35-80%(無冷凝)
能量消耗50 VA(不包括 PC)
選項?卷紙打印機輸出功能
?連續測量功能
?每個特殊的觸控筆
?圖像傳輸功能


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