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故障測試 HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀介紹

時間:2021/12/20閱讀:1187
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故障測試 HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀介紹

使用 TLP(傳輸線脈沖)的設備的抗擾度測試儀。
使用ESD槍的IEC64000-4-2對應設備的抗擾度測試儀很常見,但是當它到達LSI時,它變成了振動波形,結果,由于振動而向正方向擺動時會發生故障。是在負方向擺動時無法區分故障和故障的問題。
在該測試儀中,通過將矩形波直接施加到低阻抗 LSI 的引腳,可以區分正負故障。
通過使用可選的同步單元,可以很好地再現故障事件。
例如,在 CPU 的情況下,通過在 ROM / RAM / IO 訪問的時間應用脈沖噪聲,可以在每個時間進行抗擾度測試。
此外,方波易于建模為模擬信號源,并有望作為分析工具。

如下圖所示,將連接器插入電源或GND線,連接應用探頭,設置應用電壓和應用次數。圖中,過濾器在外部,過濾器的正面在設備內部。由于該設備沒有檢測 LSI 故障的功能,因此需要采取一些措施,通過在被測設備上安裝監視器 LED 來檢測故障。
使用同步單元時,需要將來自LSI的同步信號輸入到同步單元中。

HIT-5000


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