Loresta-GX電阻檢測儀MCP-T700停產(chǎn)替代型號MCP-T710

時間：2025/6/12閱讀：32

　　引言

　　在電子材料、半導體、導電高分子及功能性涂層等領(lǐng)域，精確測量材料的電阻率(ρ)和電導率(σ)是評估其性能的關(guān)鍵指標。日東精工(NITTOSEIKO)推出的 Loresta-GXⅡ MCP-T710 電阻檢測儀，憑借其擴展的測量范圍、高精度四探針法及智能化操作，成為研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量控制環(huán)節(jié)中不可少的測量工具。

　　核心技術(shù)特點

　　1. 寬量程與高精度測量

　　MCP-T710 采用恒流施加法和四點探針法，覆蓋 10??Ω 至 10?Ω 的超寬測量范圍，滿足從金屬薄膜(低阻)到抗靜電材料(中高阻)的全域測試需求。

　　多檔恒流輸出(1A、100mA、10mA、1mA、100μA、10μA)，自動匹配最佳測試電流，確保不同阻值區(qū)間的測量精度(低±0.5%)。

　　電流反向功能：有效抵消熱電勢影響，尤其適用于半導體硅片、ITO 透明導電膜等對溫度敏感的材料。

　　2. 專業(yè)探頭系統(tǒng)，適配復雜樣品

　　針對不同材料特性，MCP-T710 提供多種專用探頭：

　　ASR探頭：標準四探針，適用于平整硬質(zhì)材料(如玻璃、硅片)。

　　LSR探頭：低壓力探針，專為柔軟樣品(如導電橡膠、泡沫)設計，避免形變干擾。

　　ESR探頭：彈性探針，適配粗糙或曲面樣品(如電磁屏蔽涂層、紡織品)。

　　PSR探頭：微型探針，針對薄膜或微小樣品(如印刷電子、納米銀線涂層)。

　　3. 智能化操作與高效數(shù)據(jù)管理

　　7.5英寸觸摸屏界面：直觀顯示電阻率、電導率及厚度換算結(jié)果，支持上下限報警功能，快速判定合格率。

　　自動測量模式：一鍵完成測試，可選定時器或自動保持(Auto Hold)，提升批量檢測效率。

　　數(shù)據(jù)存儲與導出：內(nèi)置2000組數(shù)據(jù)存儲，支持USB導出CSV格式，便于SPC統(tǒng)計分析及報告生成。

　　4. 符合國際標準與便攜設計

　　遵循 JIS K 7194 標準，確保數(shù)據(jù)國際互認。

　　緊湊機身(2.4kg)搭配折疊式儲物箱，適合實驗室、生產(chǎn)線及現(xiàn)場檢測。

　　典型應用領(lǐng)域

行業(yè)	應用案例	技術(shù)優(yōu)勢
半導體與顯示面板	硅片電阻率、ITO薄膜方阻測量	高電流模式（1A）精準捕捉低阻值
高分子材料	導電塑料、抗靜電復合材料	LSR探頭避免樣品損傷
印刷電子	柔性電路、導電油墨涂層	PSR探頭實現(xiàn)微區(qū)測量
能源材料	鋰電電極、燃料電池導電膜	四探針法排除接觸電阻誤差

　　使用建議與維護

　　校準：定期使用隨機附帶的 4針檢查器驗證探頭狀態(tài)。

　　環(huán)境控制：高阻測量時需保持環(huán)境濕度<60%，避免靜電干擾。

　　樣品處理：薄膜樣品需確保無褶皺，金屬表面需清潔氧化層。

　　結(jié)語

　　Loresta-GXⅡ MCP-T710 通過技術(shù)創(chuàng)新(寬量程、多探頭適配)與用戶體驗優(yōu)化(智能界面、數(shù)據(jù)管理)，為材料電學性能測試提供了高可靠性解決方案。無論是研發(fā)新型導電材料，還是產(chǎn)線質(zhì)量控制，其精準、高效的特點均能顯著提升工作效率與數(shù)據(jù)可信度。

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Loresta-GX電阻檢測儀MCP-T700停產(chǎn)替代型號MCP-T710

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