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浙江托普云農科技股份有限公司

植物冠層分析儀在植物冠層結構測定中的應用

時間:2022-1-7閱讀:59
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    植物冠層是植物的主要光合層次,是接收光能的主題,冠層的結構在一定程度上決定了林木生態系統的能流過程和強度,不同的冠層結構其葉面積指數和葉傾角不同,其光合作用的效能不同,導致了植物的生產力的異同。因此為了解植物冠層結構和植物生產力之間的關系,我們需要監測植物冠層結構變化,可使用植物冠層分析儀來測定葉面積指數、葉傾角等主要植物冠層結構指標。
    托普植物冠層分析儀由語言圖像捕捉探頭、內置微型筆記本計算機、圖像分析軟件和高容量的可充電電池組成、語言探頭安裝在一個很輕的手柄的頂端,它可以獲取150°視角的圖像,圖像的顯示和存儲由配置的計算機完成。可用于測定葉面積指數、葉片平均傾角等結構指標。
    使用植物冠層分析儀測定冠層結構指標,需要在光照不強的環境下進行,將攝像頭放在需要測量的植物冠層下方,打開冠層自動采集軟件,選擇連接,用戶可以在計算機屏上看到清晰的動態圖像,然后選擇串口(一般為COM3),在選擇實時顯示便會顯示實時光合有效輻射強度值,選擇獲取方式便可獲取冠層圖像和相關的參數值,圖像格式為標準的位圖圖像,圖像和光合有效輻射強度保存于計算機的D盤中,打開冠層分析軟件,選擇需要打開的冠層圖像,點擊測量按鈕,調節適當的閾值可以計算出植物冠層的葉面積指數、葉片平均傾斜角度、散射輻射透過率、直接輻射透過率以及冠層結構等參數。

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