美國LUMETRICS波前傳感器
品牌介紹：
LUMETRICS總部位于紐約，自2003年以來，一直在為越來越多的客戶開發和制造高精度的厚度測量和計量系統，包括醫療，制藥，食品包裝等行業。我們的原始產品線OptiGauge是通過獲得Eastman Kodak的薄膜測量技術許可而推出的。從那以后，我們擴展了OptiGauge系列并開發了其他產品線，以滿足更加多樣化的行業需求。
產品范圍：
美國LUMETRICS波前傳感器、精密像差儀
主要型號：
OptiGauge 2000、OptiGauge 600、OptiGauge MLS、OptiGauge EMS、LumetriScan 360、CLAS-NX、CLAS-FX、CLAS-2D
相關產品介紹：
OptiGauge 2000儀器基于時域低相干干涉測量法。這項技術可以對任何對光測量透明或部分透明的材料進行絕對厚度測量。使用中心波長約為2微米的紅外光。設計用于測量特殊和稀有材料。常規的玻璃和塑料材料也可以測量。我們的技術可實現快速的實時測量，可用于在線過程控制以及離線質量控制。
主要特點：
-測量范圍：100μm-16mm
-精度±1.0μm
-單層和多層測量
-連續內部校準
-NIST可追溯性
-臺式或機架安裝
CLAS-2D波前傳感器將干涉儀，光束輪廓儀和光束質量儀的功能整合在一臺儀器中，以提供準確的波前測量和激光輪廓分析。
該系統軟件是業內靈活，*的軟件，可以分析光學像差，包括像散，球差，聚焦誤差/準直，傾斜等。此外，CLAS-2D還測量M2光束質量，MTF，近場和遠場光束發散度以及其他光束參數。
主要特點：
-激光束診斷
-光學測試
-對準
-角度測量
-準直
-表面測量
CrystalWave人工晶狀體精密像差儀是一種高度靈敏的光學儀器，專門設計用于使用10,000個小透鏡的柵格來測量人工晶狀體。它使您可以通過使用或不使用可選模型眼的Wavefront測量來計算MTF。CrystalWave 765還包括可用于視覺檢查的攝像機。與我們的CLAS-2D服務器軟件兼容，您還可以使用LabView，Visual Basic或其他語言編寫CrystalWave 765的應用程序，以直接控制生產線環境中的儀器。
主要特點：
-測量范圍包括球面度數，圓柱度，軸，彗差，三葉形和其他高階像差
-通過軟件口罩測量多焦點人工晶狀體
-使用綠色光源進行的測量符合ISO 11979
