使用振動臺做正弦振動試驗影響及目的：

　　(1) 對結(jié)構(gòu)的影響

　　這種影響主要是指變形、彎曲、產(chǎn)生裂紋、斷裂和造成部件之間的相互撞擊等。這種破壞又可分為由于振動所引起的應(yīng)力超過產(chǎn)品結(jié)構(gòu)強(qiáng)度所能承受的極限而造成的破壞，以及長時間的振動(例如107次以上應(yīng)力循環(huán)的振動)使產(chǎn)品發(fā)生疲勞而造成的破壞，這種破壞通常是不可逆的。

　　(2) 對工作性能的影響

　　這種影響主要是指振動使運動部件動作不正常、接觸部件接觸不良、繼電器產(chǎn)生誤動作，電子器件噪聲增大、指示燈閃爍等，從而導(dǎo)致工作不正常、不穩(wěn)定，甚至失靈、不能工作等。這種影響的嚴(yán)重程度，往往取決于振動量值的大小，而且這種破壞通常不屬于Yong久性的破壞。因為在許多情況下，一旦振動停止，工作就能恢復(fù)正常,可見這種破壞往往是可逆的。

　　(3) 對工藝性能的影響

　　這種影響主要是指螺釘松動、連接件或焊點脫開等。這種破壞通常在一個不太長的振動時間內(nèi)(例如半小時)就會出現(xiàn)。

　　上述的種種影響，特別是當(dāng)產(chǎn)品的固有頻率和激勵頻率相等引起共振而導(dǎo)致響應(yīng)幅值急劇增大時，會更迅速和更嚴(yán)重地發(fā)生。1974年日本對121艘船舶所作的調(diào)查中發(fā)現(xiàn)，在4778起設(shè)備事故中，由于振動引起的占17%。在損壞的656件自動控制設(shè)備的元器件中，由于振動損壞的占18.7%。我國的電子電工產(chǎn)品由于振動引起的結(jié)構(gòu)破壞、性能下降、工作不良和失靈的事例也屢有發(fā)生，而且是比較嚴(yán)重的。所以，正弦振動試驗是用來確定產(chǎn)品能否經(jīng)受住預(yù)定的振動條件，能否在預(yù)定的振動條件下可靠地工作、不出故事和性能不發(fā)生下降的一種行之有效的方法。

　　實際上產(chǎn)品所遇到的振動在大多數(shù)情況下是隨機(jī)性質(zhì)的振動，對這些隨機(jī)振動，本應(yīng)隨機(jī)振動試驗方法進(jìn)行試驗更切合實際。但由于歷史原因，即Zui先有的是簡單的容易產(chǎn)生的正弦振動，后隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，復(fù)雜的技術(shù)含量高的隨機(jī)振動才一步一步的發(fā)展起來。加上隨機(jī)振動控制儀剛出來時設(shè)備價格昂貴，而且需要較高的技術(shù)操作水平，試驗成本高，其次至今還有許多標(biāo)準(zhǔn)一直沿用正弦振動試驗，所以當(dāng)今還有相當(dāng)一部分在使有中實際經(jīng)受到的是隨機(jī)振動，而在對產(chǎn)品的摸底、鑒定、例外和驗收中用的仍是正弦振動試驗來進(jìn)行。另外，正弦振動還可用來研究產(chǎn)品的動態(tài)特性等。所以正弦振動試驗在力學(xué)環(huán)境試驗中還是一個Zui重要的振動試驗項目，也是一個很經(jīng)典的試驗方法。