2016年新年伊始，日本電子株式會社（JEOL）即同步推出了新款場發射透射電鏡JEM-F200。
為了全面整合近年發展起來的透射電鏡上的各種功能，JEM-F200進行了全新設計，在保障各種功能達到極限的同時，追求操作的簡單化和自動化，為用戶提供透射電鏡操作的全新體驗。具體特點表現為：
1）精煉的全新設計：在提高機械和電氣穩定性的同時，憑借對透射電鏡的豐富經驗，對電鏡整體進行了精煉全新設計，力求為用戶提供全新感受；
2) 四級聚光鏡設計：為了發揮出STEM功能，JEM-F200進行了全新概念的四級聚光鏡設計，亮度和匯聚角可以分別控制；
3）掃描系統：在照明系統掃描功能之上又增加了成像系統的掃描功能（選購件）可以獲得大范圍的STEM-EELS；
4）皮米樣品臺控制：標配的壓電陶瓷控制樣品臺，可以在原子尺度上獲得精準的移動；
5）全自動裝樣測角臺（SPECPORTER）：樣品桿的插入拔出只需電鈕即可全自動實現，彰顯其便利性及安全性；
6）成熟的冷場發射技術：將JEOL應用在球差校正技術上的冷場發射技術移植到普通的場發射透射上，可獲得更好的高分辨觀察、更高效的成分分析和更好的化學結合狀態分析；
7）雙超級能譜設計：可安裝雙超級能譜，將普通電鏡能譜的分析能力拓展到原子尺度；
8）節能減排：啟用省電模式耗電量降低80%。
