1高精度偏光顯微熔點(diǎn)儀XRD 特點(diǎn)和應(yīng)用方向
XRD型偏光顯微熔點(diǎn)儀是專為材料學(xué)、生物化學(xué)、冶金學(xué)、有機(jī)化學(xué)、高分子及納米材料科學(xué)而研制。與光學(xué)或電子顯微鏡配合使用，在微觀上觀察記錄其融化、升華、結(jié)晶過程中的狀態(tài)和各種變化。并采用人性化設(shè)計(jì)，自動化程度高，操作簡單，技術(shù)*，性能優(yōu)秀，結(jié)構(gòu)新穎可靠。
2高精度偏光顯微熔點(diǎn)儀XRD 產(chǎn)品參數(shù)
技術(shù)規(guī)格
輸入電源 | 交流170-264V 50/60HZ |
熱臺加熱工作電源 | 直流24V 3A |
功耗 | 75W |
溫度范圍 | 室溫-400℃ |
熱臺外體溫度 | 當(dāng)熱體400℃，室溫25℃時(shí)，外體溫度≤70℃ |
熱體載物重量 | 200克，加熱體大小Ф30 |
工作方式 | 連續(xù) |
測量精度 | 全范圍≤±0.3% |
系統(tǒng)波動度 | ±1℃ |
升溫速度 | 室溫～100℃，≤80秒 |
可設(shè)置最慢升溫速度 | 室溫達(dá)到400℃，4小時(shí) |
可設(shè)置升溫速度范圍 | 占空比0～99% |
即刻恒溫響應(yīng)時(shí)間 | ＜10毫秒 |
工作臺外型尺寸 | 直徑110MM，厚度12MM |
工作臺加熱面尺寸 | 37MM |
重量 | 8KG |
