ZEISS Sigma系列產(chǎn)品
用于高品質(zhì)成像與分析的蔡司場發(fā)射掃描電子顯微鏡
靈活的探測，4步工作流程，的分析性能
將的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設(shè)置成像與分析步驟，提高效率。
Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結(jié)果。
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靈活的檢測器選項，獲取清晰圖像
使用新穎的ETSE和Inlens探測器在高真空下獲取高分辨率表面形貌信息。
使用VPSE或C2D檢測器在可變壓力模式下獲得清晰圖像。
使用aSTEM檢測器生成高分辨率透射圖像。
使用HDBSD或YAG檢測器分析成分。
用戶友好,操作簡單
SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境，是一種簡潔的用戶界面。
它同時為操作經(jīng)驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。
基于實際的實驗室環(huán)境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領(lǐng)域。
但是，非專業(yè)用戶(例如學生，接受培訓不久的人員或質(zhì)量工程師)也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)，其用戶界面選項可滿足操作經(jīng)驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。
特點：
用于清晰成像的靈活探測
利用*探測術(shù)為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。
自動化加速工作流程
4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓首先，先對樣品進行導航，然后設(shè)置成像條件。
首先，先對樣品進行導航，然后設(shè)置成像條件。
接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像。最后使用工作流程的步，將結(jié)果可視化。
分析型顯微鏡
將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合：Sigma 的背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。
在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結(jié)果。
