顯微領域的高精度檢測
通過采用新開發的多毛細管，以及對探測器的優化，在實現照射半徑等同于舊有型號FT9500X為30 μm（設想FWHM： 17 μm）的基礎上，進一步將處理能力提高到了2倍以上。
產品陣容適應各類檢測樣本
針對檢測樣本的不同種類，可在下列3種型號中進行選擇
測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、超薄薄膜的型號
能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號
適合對陶瓷芯片電極部分中，過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進行高能測量的型號
兼顧易操作性與安全性
放大了開口，同時樣本室的門也可單手輕松開閉。從而提高了取出、放入檢測樣本的操作簡便性，并且該密封結構也大大減少了X射線泄漏的風險，讓用戶放心使用。
檢測部位可見
通過設置大型觀察窗、修改部件布局，使得樣本室門在關閉狀態下亦可方便地觀察檢測部位。
清晰的樣本圖像
使用了分辨率比以往更高的樣本觀察攝像頭，采用全數碼變焦，從而消除位置偏差，可以清晰地觀察數十μm的微小樣本。
另外，亦采用LED作為樣本觀察燈，無需像以往的機型那樣對燈泡進行更換。
新GUI
?將各類檢測方法、檢測樣本都以應用程序圖標的形式進行了登記。圖標皆為檢測樣本的照片、多層膜的圖示等，因此登記、整理起來就很方便，從而使得用戶可以不走彎路，直接進行檢測。
?使用檢測向導窗口來指導操作。通過與檢測畫面聯動，逐步引導用戶執行當前所需進行的工作。
FT150系列參數：
| FT150 | FT150L | FT150H | |
| 測量元素 | AL（Z＝13）～U（Z＝92） | AL（Z＝13）～U（Z＝92） | AL（Z＝13）～U（Z＝92） |
| X射線管 | Mo靶材 | ← | W靶材 |
| 管電壓：45KV管電流：1mA以下 | ← | ← | |
| 檢測器 | Si半導體檢測器（SDD） | ← | ← |
| 照射徑 | Ф：30μm (FWHM:17μm) | ← | Ф：35μm (FWHM:20μm) |
| 樣品觀察 | CCD攝像頭 | ← | |
| 樣品尺寸 | 400mm×300mm×100mm | 600mm×600mm×20mm | 400mm×300mm×100mm |
| 樣品重量 | 10Kg | ← | ← |
| 應用程序 | 定性分析 | ← | ← |
| 薄膜檢量線（單層、2層、2成分合金單層膜） | ← | ← | |
| 薄膜FP法（最多可測量5層、10個元素）等 | ← | ← | |
| 報告功能 | Microsoft Word/Excel | ← | ← |
| 電源 | AC100-240V | ← | ← |
| 儀器尺寸 | 930mm×900mm×710mm | 1030mm×1200mm×710mm | 930mm×900mm×710mm |
| 儀器重量 | 約160Kg | 約170Kg | 約160Kg |
